电子零件和半导体行业解决方案
Electronics & Semiconductor Solutions
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电子零件和半导体行业解决方案
Electronics & Semiconductor Solutions轻松地进行符合 JIS C 2170 防静电电荷积蓄的固体平面材料的电阻以及电阻率试验方 法。国际标准为 IEC61340-2-3。
要点
• 可以按照 JIS C2170 和国际标准 IEC61340-2-3 简单的进行测试。
• 可以测量•评估除静电地垫、防静电地板材料、防静电包装材料的电阻值。
• 通过使用表面/体积电阻测量用电极 SM9001 和超绝缘计 SM7110,可以进行符合 JIS的 电阻测量。
• SM9001 是同心圆状的电极构造,材质、尺寸、重量都符合 JIS,只需将被测物放上去 就能进行测量。
• 使用选件表面电阻测量用点检治具 SM9002,能够简单地实施作业前的检查,从而实现 高信赖度的测量。
标准
JIS C 2170
国际标准 IEC61340-2-3
使用仪器