电子零件和半导体行业解决方案
Electronics & Semiconductor Solutions
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Electronics & Semiconductor Solutions1台仪器可连续测量聚合体电容、导电性高分子电解电容、导电性高分子钽电容等低台仪器可连续测量聚合体电容、导电性高分子电解电容、导电性高分子钽电容等低ESR、静电容量。
要点
· 使用阻抗分析仪IM3570的LCR模式,连续进行120Hz下的C-D测量,100kHz下的ESR测量。
· ESR测量使用低阻抗高精度模式。可进行改善后的低阻抗测量反复精度。通过使用4端子的接触检查功能(仅开路检查),可实现更加准确的测量。
· 使用比较功能,分别判断C-D和ESR。
· 连续测量中的测量频率的切换等待时间缩短至 1ms,实现高速测量。
使用仪器